搜索结果: 1-1 共查到“仪器科学与技术 TI”相关记录1条 . 查询时间(0.045 秒)
样品室真空度对磁控溅射Ti膜结构的影响
磁控溅射Ti膜结构 样品室真空度
2008/5/4
本文利用场发射扫描电子显微镜和能谱仪研究不同样品室真空度条件下磁控溅射Ti沉积膜膜层的氧含量和微观结构。结果发现，当样品室真空度较低时，膜层的氧含量很高，膜层为钛的氧化物；随着真空度的提高，膜层的氧含量降低，Ti的晶粒出现；进一步提高真空度，Ti晶粒更为明显，膜层的截面呈柱状晶结构。