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中国地质大学科学技术发展院黄柳琴，蒋宏忱*等，BGEG国家重点实验室，Environmental Science & Technology (2021)，Molecular determination of organic adsorption sites on smectite during Fe-redox processes using ToF-SIMS analysis（图）
环境科学；二次；离子；质谱；蒙脱石；结构
2021/10/14
近日，环境科学领域Nature Index期刊 《Environmental Science & Technology》刊发中国地质大学生物地质与环境地质国家重点实验室黄柳琴老师为第一作者、蒋宏忱教授为第一通讯作者的学术论文——利用飞行时间-二次离子质谱对蒙脱石结构铁氧化还原过程中有机质吸附位点的分子鉴定 ，美国西北太平洋国家实验室朱梓华研究员为共同通讯作者。
ToF-SIMS Investigations on Dental Implant Materials and Adsorbed Protein Films
Group for Interfaces Nano Materials Biophysics
2011/9/15
Biofilms play an important role in the health sector, in bioanalytics, in the food industry and in engineering science because the adsorption of organic molecules can alter the physical, biological a...
BF2+注入多晶硅栅的SIMS分析
二氟化硼 硅栅 离子注入
2009/9/1
文本采用SIMS技术,分析了BF2+注入多晶硅栅退火前后F原子在多晶硅和SiO2中的迁移特性。结果表明,80keV,2×1015和5×1015cm-2 BF2+注入多晶硅栅经过900℃,30min退火后,部分F原子已扩散到SiO2中。F在多晶硅和SiO2中的迁移行为呈现不规则的特性,这归因于损伤缺陷和键缺陷对F原子的富集作用。
The Chemical Analysis of Wood Using ToF-SIMS
ToF-SIMS lignin extractives surface analysis cell wall
2009/3/6
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a powerful technique that provides chemical information about the surface of a solid sample and does not need any pretreatments. The signi...
The Structure of Thin Films of Polyaniline/Polystyrene Polymer Blends Studied by SIMS
Thin Films Polyaniline/Polystyrene
2009/2/10
The Structure of Thin Films of Polyaniline/Polystyrene Polymer Blends Studied by SIMS.
基于SIMS/GPS的汽车运动状态组合测量系统
汽车 位置姿态 SIMS/GPS组合测量
2009/1/16
建立了汽车基本坐标系并推导捷联惯性位置姿态测量基本算法，从工程易实现角度给出了中低精度SIMS和载波相位模式差分GPS在位置/速度/航向角间接反馈松散组合模式下的误差状态方程和量测方程，基于改进自适应Kalman滤波器对测量模型进行了仿真，并对组建系统进行了实车试验验证。分析表明，仿真结果和实车试验结果一致性好，测量模型满足实际汽车主动安全性试验要求。
CO毒化LaNi4.7l0.3贮氢合金的SIMS分析
贮氢合金 表面分析 毒化 一氧化碳
2008/11/7
应用ＳＩＭＳ方法对ＬａＮｉ４．７Ａｌ０．３贮氢合金被ＣＯ毒化前后的表面进行分析.结果表明：ＬａＮｉ４．７Ａｌ０．３贮氢合金毒化前Ｃ，Ｏ峰不明显，毒化后Ｏ峰明显增高，Ｃ峰明显出现.毒化后生成了Ｌａ－Ｃ，Ｌａ－Ｃ２、Ｌａ－Ｏ的强键，并在合金表面形成了一层化合物薄膜，阻止贮氢合金进一步吸氢，导致ＬａＮｉ４．７Ａｌ０．３贮氢合嘛氢量下降.吸氢速度降低.
发展了对以下三种不同薄层材料和厚度的样品的检测、分析技术：样品表面几个原子层厚度的介质膜或表面有机沾污分析技术。厚度为几个纳米量级的薄层杂质组合分布的深度剖析技术。厚度小于0.5μm绝缘介质层中杂质与组分的深度剖定析技术。应用及推广前景：该技术可用于：确定IC电路中绝缘介质膜的组分与杂质种类；检测样品表面沾污源的种类和沾污程度；浅结IC工艺中杂质与组分的深度剖析。经推广，可用于引进芯片的剖析，IC...
砷化镓中铜的SIMS定量分析
SIMS定量分析 铜 砷化镓
2008/5/5
砷化镓中铜的SIMS定量分析是有效控制砷化镓中杂质铜的浓度的重要手段，本文介绍用相对灵敏度因子定量分析砷化镓中铜的方法。
Usage of Sims and Auger Test Methods in the Production of Multilayer Printed Circuit Boards
Sims and Auger Test Methods Multilayer Printed Circuit Boards
2010/12/23
The quality and reliability of multilayer boards are determined by the adhesion strength between the copper sheets and the epoxy-glass laminates. The adhesion properties of copper foil may be improved...