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1-1
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绝缘技术 失效
”
相关记录1条 . 查询时间(0.171 秒)
绝缘栅双极型晶体管
失效
机理与寿命预测模型分析
绝缘栅双极型晶体管
失效机理
寿命预测模型
键合引线
2011/10/22
针对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的主要
失效
机理,特别是键合引线
失效
过程,采用高速红外热成像仪对键合引线
失效
过程的结温温度场分布实时探测试验,同时对IGBT模块电气与传热特性进行监控,发现IGBT在高结温与高温度梯度时主要的
失效
形式是键合引线翘曲与熔化,在外部特性上表现为集射极压降值增大,而热阻基本不变.提出了提高器件可靠性、延长使用寿命的方法.在加速寿命试验原理的基础上,通过开展高温下的功率循环...
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